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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
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Erscheinungsdatum: 26.09.2011, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Testing and Reliable Design of CMOS Circuits, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1990, Autor: Jha, Niraj K. // Kundu, Sandip, Verlag: Springer US, Sprache: Englisch, Schlagworte: Computer-Aided Design // CAD, Rubrik: Anwendungs-Software, Seiten: 248, Informationen: Paperback, Gewicht: 382 gr, Verkäufer: averdo

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Design, Development, and Integration of Reliabl...
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Erscheinungsdatum: 07.10.2016, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Design, Development, and Integration of Reliable Electronic Healthcare Platforms, Redaktion: Moumtzoglou, Anastasius, Verlag: Medical Information Science Reference, Sprache: Arabisch // Englisch, Schlagworte: MEDICAL // Family & General Practice, Rubrik: Medizin // Allgemeines, Lexika, Seiten: 384, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 1226 gr, Verkäufer: averdo

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Lim, S: Design for High Performance, Low Power,...
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Erscheinungsdatum: 25.11.2012, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits, Auflage: 2012, Autor: Lim, Sung Kyu, Verlag: Springer New York // Springer US, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 588, Informationen: HC gerader Rücken kaschiert, Gewicht: 1013 gr, Verkäufer: averdo

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Low Power and Reliable SRAM Memory Cell and Arr...
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Erscheinungsdatum: 27.11.2013, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Low Power and Reliable SRAM Memory Cell and Array Design, Auflage: 2011, Redaktion: Ishibashi, Koichiro // Osada, Kenichi, Verlag: Springer Berlin Heidelberg // Springer Berlin, Sprache: Englisch, Schlagworte: Elektronik, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 156, Informationen: Paperback, Gewicht: 248 gr, Verkäufer: averdo

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Natarajan, Dhanasekharan: Reliable Design of El...
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Erscheinungsdatum: 09/2014, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Reliable Design of Electronic Equipment, Titelzusatz: An Engineering Guide, Autor: Natarajan, Dhanasekharan, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Elektronik // Mikroelektronik // Kontrolle // wirtschaftlich // Qualitätskontrolle // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Fertigungstechnik // Zuverlässigkeit // Materialwissenschaft // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Quality Control // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Elektronische Geräte und Materialien // Industrielle Qualitätskontrolle, Rubrik: Maschinenbau // Fertigungstechnik, Seiten: 148, Abbildungen: 48 schwarz-weiße Abbildungen, Herkunft: NIEDERLANDE (NL), Informationen: Book, Gewicht: 399 gr, Verkäufer: averdo

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Breuer, Melvin A.: Diagnosis & Reliable Design ...
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Erscheinungsdatum: 17.04.2014, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Diagnosis & Reliable Design of Digital Systems, Auflage: Softcover Repri, Autor: Breuer, Melvin A. // Friedman, Arthur D., Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer Berlin, Sprache: Englisch, Schlagworte: Informatik // COMPUTERS // Computer Science // Informationstechnik // IT // allgemeine Themen, Rubrik: Informatik // EDV, Allgemeines, Lexika, Seiten: 308, Abbildungen: 2 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie, Informationen: Book, Gewicht: 487 gr, Verkäufer: averdo

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Low Power and Reliable SRAM Memory Cell and Arr...
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Erscheinungsdatum: 09/2011, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Low Power and Reliable SRAM Memory Cell and Array Design, Redaktion: Ishibashi, Koichiro // Osada, Kenichi, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer Berlin, Sprache: Englisch, Schlagworte: Elektronik // Mikroelektronik // Technik // Allgemeines // Einführung // Lexikon // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Maschinenbau // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 143, Abbildungen: 100 schwarz-weiße Abbildungen, Herkunft: NIEDERLANDE (NL), Reihe: Springer Series in Advanced Microelectronics (Nr. 31), Informationen: Book, Gewicht: 407 gr, Verkäufer: averdo

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Lim, S: Design for High Performance, Low Power,...
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Erscheinungsdatum: 16.12.2014, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits, Auflage: 2013, Autor: Lim, Sung Kyu, Verlag: Springer New York // Springer US, Sprache: Englisch, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 588, Informationen: Paperback, Gewicht: 879 gr, Verkäufer: averdo

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2N 7000 FAI - MOSFET, N-CH, 60V, 0,115A, 0,4W, ...
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Features• High Density Cell Design for Low RDS(ON)• Voltage Controlled Small Signal Switch• Rugged and Reliable• High Saturation Current Capability

Anbieter: reichelt elektronik
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